HIOKI C HiTESTER
Tuotekoodi: 3504-50
C HiTester, C, D, large capacitance MLCC Testing, Testing source frequency: 120 Hz or 1 kHz, Measuring time: 2 ms, built-in RS-232C and GPIB interface, BIN function.
Mikäli tuotteella ei ole näkyvissä hintaa, pyydä tarjous.
Monipuolinen kapasitanssimittari suurille kapasitanssiarvoille ja keraamisten monikerroskondensaattorien mittauksiin (MLCC).
– mittaustaajuus: 120 Hz tai 1 kHz
– mittausalue: 0.9400 pF – 20.0000 mF
– mittausnopeus: 2ms => sopii erityisesti tuotantokäyttöön
– asetusmuisti, 99
– sisäinen mittausmuisti: 32 000
– sisäänrakennettu komparaattori 3504-50 ja 3504-60 malleissa
Tuoteperheen mallit:
- HIOKI 3504-40: mittausjännite: 500 mV ja 1V, RS-232C
- HIOKI 3504-50: mttausjännite: 500mV ja 1 V, RS-232C ja GPIB
- HIOKI 3504-60: mittausjännite: 100mV, 500mV ja 1V, RS-232C ja GPIB.
- Tuotekoodi: 3504-50